eFlash高清

具有近200万像素(1600 x 1200像素)的本地CCD分辨率和最大限度减少失真的先进相机光学，新的eFlash高清探测器提供了显示最精细细节的高清晰度菊地图案。eFlash HD是残余应变分析(HR-EBSD)的完美选择。包含eFlash高清高质量模式的数据集也适用于交叉相关分析与第三方软件，如CrossCourt4。

典型的应用

• HR-EBSD(残余应变分析)
• 精准识别阶段
• 晶体结构的伪对称性分析

与它的前辈(eFlash HR)相比，新的eFlash HD探测器具有改进的冷却系统，可以将CCD的暗电流降低4倍。因此，生成的菊池模式现在具有更好的质量，包括更高的信噪比。

新的eFlash高清探测器使用高效率和高质量的荧光屏来获得高细节的菊池图案。高像素分辨率的CCD芯片和小颗粒尺寸的荧光粉材料的结合，保证了20 μm图案的最终像素尺寸，使图案中非常小的变化可见。

eFlash HD的高精度导航系统可以实现比10 μm的屏幕定位精度。因此，新的eFlash HD是使用基于屏幕移动的方法进行图形中心校准的最佳解决方案。

eFlash HD可与ARGUS™预散射/背散射电子成像系统。这进一步增加了探测器的通用性，并为有意义和有效的微观结构表征提供了有价值的附加信息。

新的eFlash HD还可以采用独特的OPTIMUS™TKD探测器头，以最佳的样品探测器几何结构分析电子透明样品。