x프로브

브루커의xProbe는Hysitron계측기의특성화기능Angstrom을수준으로확장하는MEMS기반트랜스듀서입니다。최신MEMS제조기술과결합된정전기작동및정전용량감지에대한力量의전문지식을사용하여설계된xProbe는是의특징인부하및변위노이즈및감도수준을달성합니다。xProbe의높은축강성은기계적대역폭을증가시켜피드백응답시간을크게개선하고높은변형률테스트를가능하게합니다。브루커의xProbe는정량적,경질프로브나노핀덴티션및nanotribological테스트의새로운표준을설정합니다。