나노기계테스트시스템

히시트론TS 77선택

정량적나노스케일(마이크로스케일기계및마찰특성화를위한필수툴킷
Hysitron ts77选择

하이라이트

나노나노기계및흉비학테스트시스템

히시트론TS 77셀렉트나노인텐터

Hysitron TS 77선택자동화된벤치탑나노기계및nanotribological테스트시스템은동급의모든기기의성능,기능및접근성의최고수준을제공합니다。브루커의유명한TriboScope정전용량트랜스듀서기술을중심으로구축된이새로운테스트시스템은나노미터에서마이크로미터길이의스케일에걸쳐신뢰할수있는기계적및트리고학적특성을제공합니다。가장눈에띄는테스트모드를지원하는TS选择는정량적나노들여쓰기,동적나노핀팅,나노스크래치,나노웨어및고해상도기계적특성매핑에저렴한항목입니다。

필수
핵심테스트기술제품군
나노들여쓰기,동적나노핀덴티션,나노스크래치,나노웨어및내부SPM이미징을포함합니다。
입증
정전용량트랜스듀서기술
나노미터에서마이크로미터길이의스케일에대한신뢰할수있는기계적특성화를위해낮은열드리프트로높은감도를제공합니다。
직관적인
제어소프트웨어및작동
기술자수준의작업자가신뢰할수있는측정을지원합니다。

특징

TS 77선택설계

  1. 컬러광학
  2. 샘플척
  3. 진동방지
  4. 환경인클로저
  5. 피에조스캐너
  6. 정전용량트랜스듀서
  7. 샘플번역스테이징
  8. 화강암프레임

TS 77테스트모드선택:필수필수킷

나노들여쓰기-고정밀기계적특성화

탄성계수,경도,크리프,스트레스이완및국소화된미세구조,인터페이스,작은표면기능및박막의골절인성을특성화합니다。

인시투spm이미징 - 우수한나노역학활성화

나노기계적테스트를수행하기위해지형이미징을위해샘플표면을래스터하는동일한프로브를활용하여우수한나노기계적특성화결과,데이터신뢰성및나노미터정밀테스트배치정확도를보장합니다。

기계적특성매핑 - 고속매핑및빠른데이터데

기존의나노들여쓰기측정보다최대180배빠른고속테스트기능을제공합니다。초당두개의나노들여쓰기테스트에서불균성물질의고해상도기계적특성지도를몇분이내에얻을수있습니다。

마모테스트-정량적나노스케일내마모성

정량적마모량및마모제거율은적용된접촉력,슬라이딩속도및패스수의함수로측정될수있습니다。。

히시트론TS선택옵션

동적나노식별——깊이프로파일링,점탄성특성

다이나믹나노들여쓰기는준정적힘구성요소에작은진동력을중첩하여재료표면에깊이의함수로서경도및계둘루의연속적인측정을얻습니다。동적나노들여쓰기옵션에는동적측정및컨트롤러전자제품에최적화된정전용량트랜스듀서가포함되어있어깊이,주파수및시간을테스트하는함수로서우수한결과를제공합니다。

나노스크래치-마찰,마르저항및박막접착

Nanoscratch은정전기작동식2차원트랜스듀서를사용하여제어된방식으로정상적인힘을적용하는동시에시료표면을가로질러팁을측면으로이동하는데필요한힘을측정합니다。나노스크래치옵션은시장에서가장민감하고신뢰할수있는나노스케일마찰및박막접착측정을제공하는측면이동을위한전동스테이징에의존하지않습니다。

소프트웨어

TS 77제어소프트웨어선택

간소화된시스템운영및데이터분석

Bruker의TS선택제어및소프트웨어패키지는패키지는프로세스를단순화하기특별히개발되었습니다。샘플로드및테스트에서실행에이터에에이르기에에르기르기르기르기르기르기TS选择제어제어소프트웨어는간단하고높은및실수없는특성화를자동화된샘플테스트테스트및루틴을통합통합및루틴을통합통합

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