光谱仪의작동원리

샘플은엑스레이로포격됩니다。이것은X선형광을생성하기위하여견본을흥분시킵니다。X선은주로내부원자껍질K와L에서원소의원자에서개별전자를”촬영”합니다。그결과공석은더높은에너지껍질의전자에의해다시채워져있습니다。

이전자의과잉에너지는그때엑스레이형광방사선의형태로방출됩니다。이방사선은지문과같은각요소에대한특징이며원자의화학결합과무관합니다。방사선의강도는시료의요소의농도에비례한다。

파장분산X선형광(WDXRF)의경우각소자는최적의측정조건하에서분석된다。

이를위해측정파라미터의개별조합은농도범위에해당하고라인중복을방지하기위해설정됩니다。

X선소스와1차방사선필터는샘플의각요소가최적으로흥분된다는것을보장합니다。

마스크는샘플컵과같은원치않는신호를잘라냅니다。

진공씰은샘플챔버를고니오미터챔버에서분리합니다。적재하는동안씰이닫혀있고곤니미터챔버는진공상태입니다。따라서시료챔버의소량만고형물을위해대피하거나액체에대한헬륨으로플러시되어야합니다。액체를측정하는동안진공씰은유출시부품을보호하기위해닫혀유지되어헬륨을안전하게보호하며안정성을향상시킵니다。

콜리메이터는해상도를개선하는데사용됩니다。

분석기결정은중요한역할을합니다。그들은여러주파수형광스펙트럼을원소의특정파장에분해합니다。이신호분리는WDXRF의뛰어난해상도와감도에매우중요합니다。

그리고마지막으로,검출기:광원원검출을위해비례카운터와무거운원소에대해신경방지카운터가사용된다。두검출기모두각각의에너지범위에완벽하게적합합니다。

하이센스^TM기술을갖춘S2彪马는50 w엔드윈도우X선튜브를사용하여샘플에서X선형광을직접자극합니다。

X선튜브의고전압을설정하고필터재료를선택함으로써에너지범위가선택됩니다。

멀티채널분석기를갖춘실리콘드리프트검출기는X선형광방사선을감지하고카운트를축적하여샘플의강도대에너지스펙트럼을형성합니다。

저에너지형광을가진가벼운원소는헬륨으로시료챔버를플러시하거나진공펌프로대피함으로써분석됩니다。