尺寸精度和表面光洁度测量

InfiniteFocusG5 plus

InfiniteFocus是一种高精度、快速、灵活的光学三维测量系统。只有一个传感器，用户验证尺寸精度并测量其部件的表面粗糙度。基于焦点变化可测量表面的范围几乎是无限的。通过垂直焦点探测，这是焦点变化的延伸，垂直表面也被横向探测。组件可追踪测量，具有高精度、高垂直分辨率和高重复性。焦点变化的稳健测量原理与隔振硬件相结合，使大型和重型部件的形状和粗糙度测量成为可能。InfiniteFocus的所有轴均配备高精度编码器，确保精确的工作台移动。带着自动化接口，InfiniteFocus还可用于生产中的全自动测量。

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技术规格

测量原理	非接触、光学、三维、基于焦点变化，包括垂直焦点探测技术
定位体积（X X Y X Z）	200毫米x200毫米x100毫米=4000000毫米3

物镜放大		2.5x	四倍	10倍HX	10倍	20倍HX	20倍	50倍	100倍
工作距离	嗯	8.8	30	37	17.5	30	19	11	4.5
横向测量范围（X，Y）（X X Y）	嗯平方毫米	5.63 31.7	3.97 15.76	1.62 2.62	1.62 2.62	0.7 0.49	0.81 0.66	0.32 0.10	0.16 0.03
垂直分辨率	纳米	2300	450	250	100	80	50	20	10
高度步进精度（1毫米）	%	n、 a。	0.05	0.05	0.05	0.05	0.05	0.05	0.05
最大可测量面积	平方毫米	40000	40000	40000	40000	24780	24780	3965	990
最小可测量粗糙度（Ra）	µm	7.	1.35	0.75	0.3	0.24	0.15	0.06	0.03
最小可测量粗糙度（Sa）	µm	3.5	0.675	0.375	0.15	0.12	0.075	0.03	0.015
最小可测半径	µm	20	12	5.	5.	3.	3.	2.	1.

有关更多信息，请下载产品传单或向我们发送请求。

高测点密度

多达5亿个测量点确保了细致的测量，公差在μm和亚μm范围内，工作距离大。高密度测量点焦点变化使操作员能够在高测量体积范围内获得一致的高横向和垂直分辨率。

新：测量超过90°的侧面

垂直焦点探测是焦距变化技术的延伸，因此是一种纯光学测量技术。它允许直接测量坡度超过90°的表面和微孔，而无需在测量过程中连接样品。

用Real3D实现全尺寸测量

使用Real3D，用户从多个角度测量曲面。单个测量值会自动合并到完整的三维数据集中。高精度和校准的旋转和倾斜轴确保对整个测量对象进行自动化、可重复和可追踪的测量。

视频

使用InfiniteFocus拾取和放置

测量溶液挑选和放置在英国2019年高级工程展上展出。因此，光学测量系统InfiniteFocus通过一个协作机器人进行扩展，以在生产过程中自动拾取、放置、测量和分类（正常/不正常）部件。观看视频看看自动化测量解决方案。

更多关于Pick&Place的信息

焦点变化技术

Alicona测量系统基于焦点变化技术，结合了表面粗糙度测量装置和形状测量系统的功能。每个Alicona测量仪器都是一个表面测量装置、表面粗糙度测量系统、几何公差三维测量系统和微坐标测量系统. 焦点变化技术结合了具有垂直扫描的光学系统的小焦距，通过焦距变化提供地形和颜色信息. 该系统的主要组成部分是一个精密光学系统，包含各种透镜系统，可配备不同的物镜，允许以不同的分辨率进行测量。