维度HPI
ハイライト
维度HPI
原子間力顕微鏡（AFM）であるDimensionｮ ファミリーのファミリーは、最高の速度と性能から工業用計測用途の長年の実績により高い評価を得ています。量産の生産環境向けに特別に設計されたDimension HPI およびPRO システムは、多くのAFM モードの自動測定を可能にしながら、品質管理、品質保証、および故障解析のための最大限の使いやすさと運用におけるコスト低減を提供します。コンタクト、タッピング、およびPeakForceTappingｮ モード技術を使用して、ユーザーはプローブとサンプル間の相互作用を正確に制御し、長いチップ寿命と同時に数千回もの反復測定においても正確な結果を提供します。
特长
幅広い測定レンジ
peakforce peapforceタッピングから従来のの，，，dimension hpi hpi hpi hpi hpm a afm研究のの研究研究研究研究セットアップ伴う复雑ささを伴わ伴わずにに，幅広いサンプルサンプルサンプルののの计测ニーズ计测ニーズ计测ニーズ计测ニーズします。
高速ナノ電気計測
afm（cafm）ををししたたた技术技术は高いでナノスケール电流电流测定测定をを行う行うことができ，故障解析测定测定测定测定のを大幅ににに向上向上さFastScan Hpiはmfmアプリケーションmfmアプリケーション10倍をを倍倍倍，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，ををををををををををををををををししししししししたたたたたたを提供し。。。。しはは感度高い测定测定提供提供
精密なナノメマッピング
ブルカー独自のPeakForce QNMとFastForce Volume™ナノスケールメカニカルマッピングモードは、サンプルのトポグラフィーや電気的特性をイメージングしながら、弾性率、剛性、接着性、放熱性、変形などの機械的特性を正確にマッピングすることができます。PeakForce QNM は、透過型電子顕微鏡や走査型電子顕微鏡では測定できないポリマー、薄膜、ナノスケールの欠陥などの非破壊測定を可能にします。