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小角X線散乱(粉煤灰)
小角X線散乱測定装置
一枝やすれすれ入射一枝(GISAXS)は1 nmから100 nµmの領域の粒子を分析するための強力な手法です。溶液中のポリマーやタンパク質,液晶,表面特性,粉末,バルクサンプル,薄膜など,多種多様な材料から,ナノ粒子のサイズ,形状,サイズ分布だけでなく,構造ダイナミクスに関する情報を得ることができます。
双端口METALJET
METALJET X線源が実験室系X線装置で最も高輝度なX線ビームをご提供
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N8地平线
粉煤灰、蜡、GISAXSを使用して,バルクから繊維,表面,生体サンプルにいたるまで,さまざまなナノ材料を対象とした研究用およびマルチユーザー施設用のハイエンドツール
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NANOSTAR
他に類を見ないモジュール機構を搭載し,1纳米から約125海里にいたるナノ構造体特性評価に一枝,GISAXS,ナノグラフィーによるソリューションをご提供
詳細はこちら
詳細
达芬奇コンポーネント
X線源,光学系,検出器,各種サンプルステージや雰囲気制御アタッチメントなどのさまざまな高性能コンポーネントは,追加搭載やアップグレード,複合化することで,新しい分析トレンドへの対応を可能にします
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DIFFRAC。套件ソフトウェア
DIFFRAC。SUITETMは,XRDデータの取得と解析を簡単に行うための幅広いソフトウェアモジュールを提供する新しいソフトウェアプラットフォームです
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