尺寸精度和表面光洁度测量
InfiniteFocusG5 +
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技术规格
测量原理 | 非接触式、光学式、三维式、基于聚焦变化的垂直聚焦探测技术 |
定位体积(X X Y X Z) | 200mm × 200mm × 100mm = 4000000 mm3 |
客观的放大 | 2.5倍 | 4 x | 10 x HX | 10倍 | 20 x HX | 20 x | 50 x | 100 x | |
工作距离 | 毫米 | 8.8 | 30. | 37 | 17.5 | 30. | 19 | 11 | 4.5 |
横向测量范围(X、Y) (X X Y) |
毫米 mm² |
5.63 31.7 |
3.97 15.76 |
1.62 2.62 |
1.62 2.62 |
0.7 0.49 |
0.81 0.66 |
0.32 0.10 |
0.16 0.03 |
垂直分辨率 | 纳米 | 2300 | 450 | 250 | One hundred. | 80 | 50 | 20. | 10 |
高度步进精度(1mm) | % | 厦门市。 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.05 |
Max。可测量的面积 | mm² | 40000 | 40000 | 40000 | 40000 | 24780 | 24780 | 3965 | 990 |
最小可测量粗糙度(Ra) | µm | 7 | 1.35 | 0.75 | 0.3 | 0.24 | 0.15 | 0.06 | 0.03 |
最小可测量粗糙度(Sa) | µm | 3.5 | 0.675 | 0.375 | 0.15 | 0.12 | 0.075 | 0.03 | 0.015 |
分钟可衡量的半径 | µm | 20. | 12 | 5 | 5 | 3. | 3. | 2 | 1 |
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测点密度高
高达5亿个测量点确保了精确细致的测量,微米和亚微米范围的公差以及大的工作距离。测量点密度高Focus-Variation使作业者能够在高测量体积下获得一致的高水平和垂直分辨率。
新:测量超过90°的侧面
垂直聚焦探测是变焦技术的延伸,因此是一种纯光学测量技术。它允许测量斜坡大于90°的表面和微孔直接测量,而无需在测量过程中连接样品。
完整的形式测量Real3D
使用Real3D,用户可以从多个角度测量表面。单个测量数据会自动合并成一个完整的3D数据集。高精度、校准的旋转、倾斜轴,保证了整个测量对象的自动化、可重复、可跟踪测量。
视频
选择和地点与无限焦点
测量解决方案挑选和地方在英国2019年先进工程展上展出。因此,光学测量系统InfiniteFocus被扩展为一个协作机器人,可以在生产中自动拾取、放置、测量和排序(OK/ not OK)组件。观看视频看看自动化测量解决方案。
Focus-Variation技术
Alicona测量系统基于Focus-Variation技术,结合了表面粗糙度测量装置和形状测量系统的功能。每台Alicona测量仪器都是一台表面测量装置、表面粗糙度测量系统、三维几何公差测量系统和微坐标测量系统.Focus-Variation技术结合了小深度的聚焦光学系统采用垂直扫描从聚焦的变化中提供地形和颜色信息.该系统的主要组成部分是一个精密光学系统,包含各种透镜系统,可以配备不同的目标,允许不同分辨率的测量。