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布鲁克介绍了Dektak XTL来满足半导体需求

2014年1月14日

新的Stylus Profiler可启用半自动测量值

马萨诸塞州比勒里卡。- (商业资讯) - 布鲁克(纳斯达克:BRKR)今天宣布发布DEKTAK XTL手写笔伪造者,将其行业领先的手写笔尺度量表功能扩展到200和300毫米半导体晶圆厂和下一代触摸面板制造商。该系统提供了最具成本效益的300毫米晶片溶液,用于表征薄膜台阶高度,抵抗步骤高度,线边缘粗糙度,CMP盘盘和侵蚀以及滚动量(ROA)。这DEKTAK XTL将数十年的手写笔创新与针对QA/QC环境的新功能相结合,以提高准确性和最小的操作员干预,并在加载和卸载样品之间进行最小化。

布鲁克·德克塔克(Bruker Dektak)XTL(照片:商业资讯)

布鲁克·德克塔克(Bruker Dektak)XTL(照片:商业资讯)

“ Bruker的Dektak XTL具有12英寸的舞台是同类产品中最先进的系统。” 罗杰·李,,,, 集成部项目导演 中国晶圆级CSP Co.,Ltd。(WLCSP)。“该系统是稳定且可靠的,并且具有许多强大的功能和易用功能。布鲁克(Bruker)的手写笔毕业生始终领导该行业的技术,并且它们始终满足我们在生产中的计量要求。”

“像WLCSP这样的客户一直在要求使用更大规模的手写笔测量系统,以支持我们传统Dektak产品的准确性和行业可重复性,以支持其最新的300mm晶圆厂需求。” 肯特·希思,布鲁克的手写笔和光学计量业务部门总经理。“与DEKTAK XTL我们已经通过其5纳米可重复性来满足这种需求,并且我们已经内置了一个新的点击自动化水平,以实现行业中无与伦比的最大生产率。我们的早期访问客户对生产和开发应用程序的直觉感到惊讶。”

关于Dektak XTL

DEKTAK XTL带有带动性的被动隔离的小占地面积和一个完全封闭的工作站,并带有宽阔,易于访问的互锁门,使其适合要求生产地板环境。它的双相机体系结构可增强空间意识,并且其高水平的自动化水平可最大程度地提高制造吞吐量。Bruker的独家Vision64®高级生产接口(API)具有模式识别,优化了严格的QA/QC要求的系统,并使数据收集成为直观且可重复的过程,从而最大程度地降低了操作员到操作员的可变性。

关于 布鲁克公司(纳斯达克:BRKR)

布鲁克公司是用于分子和材料研究以及工业,诊断和应用分析的高性能科学工具和解决方案的领先提供商。bob娱乐平台bob综合游戏有关有关的更多信息 布鲁克公司, 访问www.energie2point0.com

资源: 布鲁克公司

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营销传播

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类别: 新闻发布
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