尺寸精度和表面饰面测量

InfiniteFocusg5 Plus

InfiniteFocus是一种高度准确，快速，灵活的光学3D测量系统。仅使用一个传感器，用户可以验证尺寸精度并测量其组件的表面粗糙度。基于焦点变化可测量表面的范围几乎是无限的。通过垂直焦点探测，这也是侧面垂直表面的扩展。组件以高精度，具有高垂直分辨率和高可重复性的高度测量。焦点变化的强大测量原理与振动隔离的硬件结合使用，可实现大小组件的形式和粗糙度测量。所有InfiniteFocus的轴均配备高度精确的编码器，以确保精确的舞台运动。带着自动化接口，InfiniteFocus还用于生产中的全自动测量。

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技术规格

测量原理	非接触，光学，三维，基于焦点变化。垂直焦点探测技术
定位量（x x y x z）	200 mm x 200 mm x 100 mm = 4000000 mm3

客观放大		2.5倍	4x	10x HX	10倍	20x HX	20倍	50x	100x
工作距离	毫米	8.8	30	37	17.5	30	19	11	4.5
横向测量范围（x，y）（x x y）	毫米 mm²	5.63 31.7	3.97 15.76	1.62 2.62	1.62 2.62	0.7 0.49	0.81 0.66	0.32 0.10	0.16 0.03
垂直分辨率	nm	2300	450	250	100	80	50	20	10
高度步骤准确性（1毫米）	％	N.A.	0.05	0.05	0.05	0.05	0.05	0.05	0.05
最大限度。可测量的区域	mm²	40000	40000	40000	40000	24780	24780	3965	990
最小可测量的粗糙度（RA）	µm	7	1.35	0.75	0.3	0.24	0.15	0.06	0.03
最小可衡量的粗糙度（SA）	µm	3.5	0.675	0.375	0.15	0.12	0.075	0.03	0.015
最小可测量的半径	µm	20	12	5	5	3	3	2	1

有关更多信息，请下载产品传单或向我们发送请求。

高测量点密度

多达5亿个测量点可确保精心详细的测量，并在μm和sub-μm范围内以及较大的工作距离进行公差。高测量点密度焦点变化使操作员能够在高测量量上获得一致的横向和垂直分辨率。

新：超过90°的侧面的测量

垂直焦点探测是焦点变化技术的扩展，因此是纯粹的光学测量技术。它允许在测量过程中直接表达超过90°和微孔的斜率的表面测量。

使用Real3D的完整表单测量

使用Real3d，用户从许多角度测量表面。单个测量将自动合并为完整的3D数据集。高精度和校准的旋转和倾斜轴可确保对整个测量对象进行自动，可重复和可追溯测量。

视频

与InfiniteFocus一起选择

测量解决方案选择和地点在英国的2019年高级工程展上展出。因此，光学测量系统InfiniteFocus通过协作机器人进行扩展，以自动选择，位置，测量和排序（OK/ NOT OK）组件。观看视频并查看自动测量解决方案。

有关挑选和地点的更多信息

焦点变化技术

Alicona测量系统基于焦点变化的技术，并结合了表面粗糙度测量设备和形式测量系统的功能。每种Alicona测量仪器都是表面测量设备，表面粗糙度测量系统，用于几何耐受和微坐标测量系统的3D测量系统。焦点变体技术结合了光学系统的小焦点和垂直扫描，以提供焦点变化的地形和颜色信息。系统的主要组件是一个精确的光学器件，其中包含各种镜头系统，这些系统可以配备不同的目标，从而允许测量不同的分辨率。