D8前进
伪造的侯爵夫人
Le D8 ADVANCE : une solution unique pourla DRX, le PDF et le SAXS
D8前进– la solution pérenne en diffraction des rayons X
Le D8 ADVANCE est basé sur la plate-forme unique de la famille de diffractomètres D8 et est parfaitement conçu pour toutes les applications de diffraction et de diffusion des rayons X sur poudre, y compris:
- 衍射传统DES RAYONS X SUR POUDRE（DRX）
- 分析de la fonction de distribution de paires (PDF)
- Diffusion des rayons X aux petits et grands angles (SAXS, WAXS)
grâceàSasa SuperbeAdaptabilité，le d8推进了la la la a la a -de Mesurer tous les typesd'échantillons，des Liquides aux poudres，des couches minces aux aux massifs，avec un seul乐器。
Peu importe si vous êtes un novice ou un expert, les changements de configuration sont rapides, faciles et infaillibles. Tout cela est rendu possible grâce au DAVINCI.DESIGN unique de Bruker : changement de la configuration de l´instrument sans outil ni alignement pris en charge par la reconnaissance et la validation automatiques des composants en temps réel.
De plus, seul Bruker offre une garantie d’alignement basée sur le standard de référence NIST SRM1976. Aucun diffractomètre de poudre sur le marché ne dépasse la précision d’un D8 ADVANCE en termes de position des pics, d’intensité et de résolution.
Galerie desMarchés
MétrologieDes电影Minces
Produits pharmaceutiques
斯托克d´énergie/电池
Caractéristiques
Caractéristiques clés
Optiques TWIN / TWIN
La ConceptionBrevetéeDeChemin Optique Twin / Twin Simplifie Grandement L'listion du D8 Advance，Permettant une grandevariétéd'Applicationset de de类型d'échantillons。avec lacosscopsitéde l'esprit，lesystème处置了dune domnuns ponmonatique-motoatique-motoriséeEntre4géométriesde faisceaudifférents。SANS干预措施Manuelle de l'Ililisateur，Lesystèmeest De Passer de la pocaliation bragg-brentano pour les poudres - laGéométriede faisceau de faisceau de faisceau pour pour pourleséchantillonsinrégulonsinréguliers，les res revTements et les film films simces simces。Il相关的招聘类型D'échantillons，Y Compris les Poudres，Les Massifs，Les Fibers，Les Films et les Couches Minces（Amorphes，Polycristallines etépitaxiées）
动态光束优化™（DBO）
La fonction DBO unique de Bruker établit une nouvelle référence en termes de qualité des données pour la diffraction des rayons X. La synchronisation automatique des fentes de divergence motorisée, d’un couteau anti-diffusion motorisé et de la zone active du détecteur offre une qualité de données inégalée, en particulier aux angles 2Ɵ. DBO est disponibles pour tous les membres de la famille des détecteurs LYNXEYE : SSD160-2, LYNXEYE-2 et LYNXEYE XE-T.
LYNXEYE XE-T
Le LYNXEYE XE-T est le fleuron de la famille des détecteurs LYNXEYE. Le LYNXEYE XE-T est le seul détecteur à dispersion en énergie sur le marché pour l’acquisition de données 0D, 1D et 2D. Adapté à toutes les longueurs d’onde (du Cr à l´Ag), avec la capacité de comptage la plus élevée et la meilleure résolution angulaire, ce détecteur est idéal pour toutes les applications de diffraction et de diffusion des rayons X.
La superbe résolution en énergie du LYNXEYE XE-T, meilleure que 380 eV, en fait le système de détection le plus performant sur le marché en termes de filtrage de fluorescence. Avec le détecteur LYNXEYE XE-T, la fluorescence du fer excité par le rayonnement Cu est filtré à 100% avec zéro perte d’intensité. De plus il n’y a plus besoin de filtres métalliques qui causent des artefacts dans les données tels que les résidus Kß et les seuils d’absorption. En outre, les monochromateurs secondaires qui impactent sévèrement l’intensité sont obsolètes.
Le LYNXEYE XE-T est couvert par la garantie détecteur unique de Bruker : Pas de canaux défectueux au moment de la livraison. Garanti !
Galerie des fonctionnalités
DAVINCI.DESIGN
Dynamic Beam OptimizationTM (DBO)
Famille de détecteurs EIGER2 R
Qualité des instruments et des données
Applications
Un diffractomètre - Toutes les applications
Diffraction des poudres
Les techniques de diffraction des rayons X (DRX) des poudres sont parmi les outils les plus importants pour la caractérisation des matériaux. Une grande partie des informations contenues dans un modèle de poudre est dérivée directement de l’arrangement atomique des phases présentes. Le D8 ADVANCE et le progiciel DIFFRAC.SUITE permettent l’exécution aisée des taches classiques de la DRX :
- Identification des phases cristallines et amorphes et détermination de la pureté de l´échantillon
- 分析定量des阶段cristallines et amorphes danslesMélanges多人
- 分析microstructure (taille de cristallite, micro-contrainte, désordre...)
- containterésiduellede massifsrésultantdu thermique husinage des ComposantsManufacturés
- 分析de la texture (orientation préférentielle)
- 指数化,处境tion ab-initio et affinement de la structure cristalline
分析de la fonction de distribution de paires (PDF)
L’analyse de la fonction de distribution des paires (PDF) est une technique analytique qui fournit des informations structurales de matériaux désordonnés basés sur la diffraction ainsi que la diffusion diffuse (« diffusion totale »). Alors que les pics de Bragg fournissent des informations sur la structure cristalline moyenne d’un matériau (c.-à-d. l’ordre à longue distance), la diffusion diffuse permet la caractérisation de sa structure locale (c.-à-d. l’ordre local).
Le D8 ADVANCE et le logiciel DIFFRAC.TOPAS représentent les solutions d’analyse PDF les plus performantes sur le marché en termes de vitesse d’analyse, de qualité des données et de résultats pour l’analyse de matériaux amorphes, mal cristallisés, nanocristallins ou nanostructurés :
- Identification des phases
- Déterminationet la结构
- Taille et eme des nanoparticules
电影et couches minces
L’analyse des couches minces et des revêtements est basée sur les mêmes principes de DRX, mais avec un conditionnement du faisceau supplémentaire et un contrôle angulaire. Les exemples typiques incluent, sans s’y limiter, l’identification des phases, la qualité cristalline, la contrainte résiduelle, l’analyse de texture, la détermination de l’épaisseur et de la composition par rapport à l’analyse des contraintes. L’analyse des couches minces et des revêtements se concentre sur les propriétés des matériaux en couches d’épaisseur du nm au μm, allant des revêtements amorphes et polycristallins aux films épitaxiés. Le D8 ADVANCE et le progiciel DIFFRAC.SUITE permettent des analyses de haute qualité des films minces, notamment :
- la衍射发病率（GID）
- LaRéflectométriedes Rayons X（XRR）
- La diffraction des rayons X haute résolution (HRXRD)
- La ProtographieduRéseauRéciproque（RSM）
Galerie d’applications
Identification des phases
Quantification des phases
drx non-bamiant
分析de la texture
分析de lacontrainteRésiduelle
Réflectométriedes Rayons X（XRR）
Diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS)
规格s
Spécifationddu D8 Advance
主体 |
规格 |
Avantage |
OPTIQUE TRIO et TWIN |
Sélection en 1 clic dans le logiciel entre : Fente de divergence motorisée (Bragg-Brentano) Faisceau parallèle Ka1,2 haute intensité Faisceau parallèle Ka1 haute résolution Brevets: US10429326, US6665372, US7983389 |
Commutation entièrement automatique et motorisée entre jusqu’à 6 géométries de faisceau différents sans aucune intervention manuelle de l’utilisateur Parfaitement adapté à tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les revêtements et les couches minces (amorphes, polycristallines et épitaxiées) |
Dynamic Beam Optimization |
Synchronisation dynamique de : Fentes de divergence motorisées Couteau anti-diffusion motorisé Fenêtre active du détecteur variable Gamme angulaire 2Thêta: <1 à >150 |
Données pratiquement exemptes de la diffusion de l’air, de l’instrument et du porte d’échantillon des限制détectionNettementamélioréespermettant la量化pour les阶段cristallines et des amorphes Performances inégalées aux faibles angles 2Thêta permettant des investigations précises des argiles, des produits pharmaceutiques, des zéolites, des matériaux de mésoporeux et plus encore |
LYNXEYE XE-T |
决议energetique: < 380 eV @ 8凯文 模式：0d，1d，2d Longueurs d’onde: Cr, Co, Cu, Mo et Ag Brevets：EP1647840，EP1510811，US20200033275 |
pas besoin defiltrekßoudeMonochromateur Secondaire Filtrage à 100% de la fluorescence du fer avec le rayonnement Cu Jusqu’à 450 fois plus rapide que les systèmes de détection conventionnels BRAGG2D : Collecter des données 2D avec un divergent issue d´un foyer linéaire Garantie unique du détecteur : Pas de canaux défectueux à la livraison |
EIGER2 R |
LeDétecteur多模（0d/1d/2d）dedernièreGénérationBaséBaséSurla Technologie“混合光子计数”，dévelodpéPardectrisltd. |
Intégration透明DesDonnées0d，1d et 2dcollectéesen模式，连续 Rotation ergonomique du détecteur sans alignement pour optimiser la couverture angulaire γ ou 2Θ Optiques panoramiques utilisant la totalité de la zone active du détecteur à monter (sans outil) dans le faisceau diffracté Positionnement variable et continu du détecteur sur le bras secondaire pour varier entre couverture angulaire et résolution |
TWIST.TUBE |
Commutation facile, rapide et sans alignement entre le foyer linéaire et le foyer ponctuel |
Pas de déconnexion des câbles électriques ou des tuyaux d’eau ou de démontage du tube DAVINCI.DESIGN : Détection et configuration entièrement automatiques de l’orientation du tube |
Passeurs d’échantillons |
FLIPSTICK: 9 échantillons Autochanger：90Échantillons |
Opération en réflexion ET en transmission |
Goniomètre du D8 |
Goniomètre à deux cercles avec moteurs pas à pas indépendants et encodeurs optiques |
Une précision et une justesse inégalées, comme stipulées dans la garantie l’alignement unique de Bruker Mécanismed'Entraînementinsentien / Intenage avec lubrificationàvie |
Non ambiant |
Température: Allant de ~-4K jusqu’à ~2500K Pression : 10-⁴ mbar jusqu’à 100 bars Humidité：5％à95％RH |
MESUS DANS DES条件Ambiantes et non Ambiantes Platines échantillon facilement changées avec DIFFRAC.DAVINCI |
访问
Composants pour la DRX
Les Solutions Bruker Xrd SontConstituéesDeComposant Haute PerformanceConformurésPourrépondreAux axigences Analytiques。
La conception modulaire est la clé pour configurer le meilleur instrument.
吹捧Catégoriesde Composant Font Partie desCompétencesClésDeBruker，Développéesetfabriquéespar bruker Axs，Ou enénétroite协作Avec des fournisseurs tiers。
Les Composant drx bruker sont Disponibles倒入niveau lessystèmesdeRayons XAlloctésafind'AméliorerLeurs Leurs表演。
逻辑
PLANIFIER.MEASURER.ANALYSER avec DIFFRAC.SUITE
diffrac.Suite™提出了大型伽马模块逻辑，倒入une occisition et uneévaluationintefinnéesdesdonnéesde衍射des rayons x sur poudre。BaséSurLa Technologie Microsoft.net，Diffrac.suite ofre tous les les avantages de la Technologie Logicielle Moderne pour lastosilité，lafacilitéd'liperization d'lipimale d'maximale et la mise enréseau。
L'interface utilisateur entièrement personnalisable est caractérisée par un cadre d’onglets, offrant une apparence, une sensation et un fonctionnement communs. Tous les modules logiciels de mesure et d'évaluation peuvent être utilisés en tant qu'applications individuelles ou intégrés ensemble dans le cadre d’onglets de DIFFRAC.SUITE. Un réseau illimité permet l'accès et le contrôle de n'importe quel nombre de diffractomètres D2 PHASER, D8 ADVANCE, D8 DISCOVER et D8 ENDEAVOR au sein du réseau d'un client.
逻辑de Mesure:
WIZARD- 梅托德斯
COMMANDER– Exécution de méthodes et mesure en direct
工具-接口服务bob电竞官方网站
逻辑de diffraction des poudres:
dquant– Analyse quantitative des phases
EVA– Identification des phases et analyse quantitative
TOPAS– Analyse de profile, analyse quantitative, analyse structurale
Logiciels de RecherchedeMatériaux：
SAXS– Logiciel pour la diffusion aux petits angles
XRR– Analyse complète de réflectométrie
TEXTURE- L'Analys de纹理偏差
LEPTOS– Analyse de couche mince / Evaluation des contraintes résiduelles
Webinaires
Webinaires
Plus d'informations
Ressources D8 Advance
Support
Service & Support
Nous fournissons :
- Assistance technique par des professionnels du dépannage hautement qualifiés, pour isoler et résoudre les problèmes matériels et logiciels
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