光学三坐标测量机测量紧公差

µCMM


µCMM是第一台纯光学CMM机器,用于高精度测量极紧公差。用户结合触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优点,只需一个传感器即可测量零件的尺寸、位置、形状和粗糙度。光学坐标测量机提供了多个光学3D测量的高几何精度,能够测量大型部件上的小表面细节,并精确确定这些单独测量的位置。可测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料,如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、铬、硅。通过单按钮解决方案、自动化和人体工程学控制元件(如专门设计的控制器)实现简单操作。采用线性驱动的空气轴承轴可实现无磨损使用和高精度、快速测量。bob娱乐平台bob综合游戏

E大学:Tr: ODS,迈普=(0.8+L/600)μm
EUniZ:St:ODS,MPE= (0.15 + L/50)µm

光学三坐标测量机测量紧公差;µCMM

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技术规格|µCMM

测量原理 非接触,光学,三维,基于焦点变化,包括垂直焦点探测技术
测量点数量 单次测量:X:1720,Y:1720,X:295万
多重测量:高达5亿
定位体积(X X Y X Z) 310 mm × 310 mm × 310 mm = 29 791 000 mm³
轴的移动速度 高达100毫米/秒
同轴照明 LED同轴照明(彩色),大功率,电子可控
系统监控 9个温度传感器(精度:±0.1 K),3个振动传感器,内部电流和电压监测,包括长期记录,可检索
三维精度10360 - 8给出的值是基于ISO 10360-8和VDI 2617 E大学:Tr: ODS,迈普=(0.8+L/600)μm(L单位:mm)轴精度基于ISO 10360-8。
EUniZ:St:ODS,MPE=(0.15+L/50)μm(L单位为毫米)适用于单次测量,高度步长测量
客观的 3000年wd8 1900年wd30 1500年wd23 1500WD70 800年wd17 800WD37 400WD19 150WD11
工作距离 8.8 30. 23.5 64.4 17.5 37 19 11
横向测量范围(X,Y)
(X X Y)

mm²
5.26
27.64
3.29
10.8
2.63
6.91
2.63
6.91
1.32
1.71
1.32
1.71
0.66
0.43
0.26
0.06

有关更多信息,请下载产品传单或向我们发送请求。

µCMM提供

直观的可用性,为多个用户设计

可测量表面的光谱在很大程度上与材料无关,包括工业中常用的所有材料和复合材料,从磨砂到抛光或镜像组件。bob综合游戏

密实非接触和与材料无关的测量

Alicona测量系统提供了一个表面的功能,以及一个坐标测量系统组合成一个系统。因此,您的质量保证变得更具有成本效益,更容易执行,并更有效地交付结果。

无磨损,高效使用

包括移动轴在内的所有部件均无接触运行。空气轴承线性驱动轴可实现无磨损操作和高精度、快速测量。这使得μCMM非常适合在生产中永久使用。

新软件MetMax

从“我如何衡量?”到“我衡量什么?”

Focus-Variation技术

Alicona测量系统基于Focus-Variation技术,结合了表面粗糙度测量装置和形状测量系统的功能。每台Alicona测量仪器是一个表面测量装置、表面粗糙度测量系统、几何公差三维测量系统、微坐标测量系统. 焦点变化技术结合了一种光学系统的小聚焦深度,具有垂直扫描功能,可根据聚焦的变化提供地形和颜色信息.该系统的主要组件是一个精密光学系统,包含各种透镜系统,可以配备不同的目标,允许不同分辨率的测量。

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