光学三坐标测量机测量紧公差
µCMM
µCMM是第一台纯光学CMM机器,用于高精度测量极紧公差。用户结合触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优点,只需一个传感器即可测量零件的尺寸、位置、形状和粗糙度。光学坐标测量机提供了多个光学3D测量的高几何精度,能够测量大型部件上的小表面细节,并精确确定这些单独测量的位置。可测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料,如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、铬、硅。通过单按钮解决方案、自动化和人体工程学控制元件(如专门设计的控制器)实现简单操作。采用线性驱动的空气轴承轴可实现无磨损使用和高精度、快速测量。bob娱乐平台bob综合游戏
E大学:Tr: ODS,迈普=(0.8+L/600)μm
EUniZ:St:ODS,MPE= (0.15 + L/50)µm
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几乎!
技术规格|µCMM
测量原理 | 非接触,光学,三维,基于焦点变化,包括垂直焦点探测技术 |
测量点数量 | 单次测量:X:1720,Y:1720,X:295万 多重测量:高达5亿 |
定位体积(X X Y X Z) | 310 mm × 310 mm × 310 mm = 29 791 000 mm³ |
轴的移动速度 | 高达100毫米/秒 |
同轴照明 | LED同轴照明(彩色),大功率,电子可控 |
系统监控 | 9个温度传感器(精度:±0.1 K),3个振动传感器,内部电流和电压监测,包括长期记录,可检索 |
三维精度10360 - 8给出的值是基于ISO 10360-8和VDI 2617 | E大学:Tr: ODS,迈普=(0.8+L/600)μm(L单位:mm)轴精度基于ISO 10360-8。 EUniZ:St:ODS,MPE=(0.15+L/50)μm(L单位为毫米)适用于单次测量,高度步长测量 |
客观的 | 3000年wd8 | 1900年wd30 | 1500年wd23 | 1500WD70 | 800年wd17 | 800WD37 | 400WD19 | 150WD11 | |
工作距离 | 嗯 | 8.8 | 30. | 23.5 | 64.4 | 17.5 | 37 | 19 | 11 |
横向测量范围(X,Y) (X X Y) |
嗯 mm² |
5.26 27.64 |
3.29 10.8 |
2.63 6.91 |
2.63 6.91 |
1.32 1.71 |
1.32 1.71 |
0.66 0.43 |
0.26 0.06 |
有关更多信息,请下载产品传单或向我们发送请求。
µCMM提供
直观的可用性,为多个用户设计
可测量表面的光谱在很大程度上与材料无关,包括工业中常用的所有材料和复合材料,从磨砂到抛光或镜像组件。bob综合游戏
密实非接触和与材料无关的测量
Alicona测量系统提供了一个表面的功能,以及一个坐标测量系统组合成一个系统。因此,您的质量保证变得更具有成本效益,更容易执行,并更有效地交付结果。
无磨损,高效使用
包括移动轴在内的所有部件均无接触运行。空气轴承线性驱动轴可实现无磨损操作和高精度、快速测量。这使得μCMM非常适合在生产中永久使用。
新软件MetMax
从“我如何衡量?”到“我衡量什么?”
Focus-Variation技术
Alicona测量系统基于Focus-Variation技术,结合了表面粗糙度测量装置和形状测量系统的功能。每台Alicona测量仪器是一个表面测量装置、表面粗糙度测量系统、几何公差三维测量系统、微坐标测量系统. 焦点变化技术结合了一种光学系统的小聚焦深度,具有垂直扫描功能,可根据聚焦的变化提供地形和颜色信息.该系统的主要组件是一个精密光学系统,包含各种透镜系统,可以配备不同的目标,允许不同分辨率的测量。
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