推拉装置
专为纳米线设计和自由站立薄膜
现在，可以快速且始终合成1D和2D材料bob综合游戏，需要进行新的机械表征技术来评估和优化其在下一代产品和装置中使用的机械性能。为了满足提供这些新型材料形式的合适测试平台的需要，Bruker开发了推拉（PTP）装置，该装置是一种原位拉伸装置，旨在与Hysitron PI系列微微印章配合使用SEM和TEM的仪器。
PTP设备（左）的光学图像和PTP设备间隙的SEM图像（右）。
从PTP设备偏转（右）的加载/卸载与位移曲线（左）和位移和负载与加载与时间。注意，线性弹性行程距离大于4μm。
PTP器件是可消耗的MEMS制造的弯曲装置，纳米管或薄膜样品可以安装在其上。一旦制备，样品被转移到微微印丁系统系统中，并且施加定量拉伸载荷。机械数据用于计算拉伸性质，同时同时电子显微镜成像提供微结构行为的实时视频。将电动推拉（E-PTP）命名的设备的电气版本进一步扩展了能力，并在整个拉伸实验中启用四点电测量。
