光学三坐标测量机测量紧公差

µCMM

三坐标测量机(CMM)是世界上第一台纯光学三坐标测量机，用于高精度测量极紧公差。用户结合触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优点，只用一个传感器即可测量元件的尺寸、位置、形状和粗糙度。光学三坐标测量机提供了几个光学三维测量的高几何精度，可以测量大部件上的小表面细节，并精确确定这些单独测量的相对位置。可测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料，如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、铬、硅。bob娱乐平台bob综合游戏简单的操作是由单按钮解决方案，自动化和人体工程学控制元素，如专门设计的控制器。空气轴承轴与线性驱动，使无磨损使用和高度准确，快速的测量。

E_{大学:Tr: ODS,迈普}= (0.8 + L/600) μm
E_{UniZ:圣:ODS,迈普}= (0.15 + L/50)µm

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技术参数|µCMM

测量原理	非接触，光学，三维，基于焦点变化，包括垂直焦点探测技术
测点数	单次测量:X: 1720, Y: 1720, X X Y: 295万多重测量:高达5亿
定位体积(X X Y X Z)	310 mm × 310 mm × 310 mm = 29 791 000 mm³
轴运动速度	高达100毫米/秒
同轴照明	LED同轴照明(彩色)，大功率，电子可控
系统监控	9个温度传感器(精度:±0.1 K)， 3个振动传感器，内部电流和电压监测，包括长期记录，可回收
三维精度10360 - 8^{给出的值是基于ISO 10360-8和VDI 2617}	E_{大学:Tr: ODS,迈普}= (0.8 + L/600) μm (L in mm)^{轴精度基于ISO 10360-8。} E_{UniZ:圣:ODS,迈普}= (0.15 + L/50) μm (L in mm)^{适用于单次测量，高度步长测量}

客观的		3000年wd8	1900年wd30	1500年wd23	1500年wd70	800年wd17	800年wd37	400年wd19	150年wd11
工作距离	毫米	8．8	30.	23.5	64.4	17．5	37	19	11
横向测量范围(X,Y) (X X Y)	毫米 mm²	5.26 27.64	3.29 10．8	2.63 6.91	2.63 6.91	１．３２ 1.71	１．３２ 1.71	0.66 0．43	０．２６ 0．06

欲了解更多信息，请下载产品传单或向我们发送请求。

µCMM提供

直观的可用性，为多个用户设计

可测量表面的光谱在很大程度上与材料无关，包括工业中常用的所有材料和复合材料，从磨砂到抛光或镜像组件。bob综合游戏

密实非接触和与材料无关的测量

Alicona测量系统提供了一个表面的功能，以及一个坐标测量系统组合成一个系统。因此，您的质量保证变得更具有成本效益，更容易执行，并更有效地交付结果。

无磨损，高效使用

所有部件，包括动轴，都是无接触操作。空气轴承直线驱动轴使无磨损操作和高精度，快速测量。这使得μCMM非常适合在生产中永久使用。

新软件MetMax

从“我如何衡量?”到“我衡量什么?”

Focus-Variation技术

Alicona测量系统基于Focus-Variation技术，结合了表面粗糙度测量装置和形状测量系统的功能。每台Alicona测量仪器是一个表面测量装置、表面粗糙度测量系统、几何公差三维测量系统、微坐标测量系统．Focus-Variation技术结合了一种光学系统的小聚焦深度，具有垂直扫描功能，可根据聚焦的变化提供地形和颜色信息．该系统的主要组件是一个精密光学系统，包含各种透镜系统，可以配备不同的目标，允许不同分辨率的测量。