PolyTools 2.0

PolyTools可以直接使用flexAnalysis或其他布鲁克程序创建的峰值列表，或从其他来源。PolyTools将自动确定产生测量质谱的单体、端基和阳离子。如果同位素在峰表中被分解，那么属于同位素分布的线就被识别出来，并可以被还原成单同位素系列。对于每个系列，平均分子量M_n和M_w，分散性Đ_米确定了聚合度，并对端基提出了建议。根据这些数据计算出了新的杆谱，并与实验谱进行了比较。

此外，在PolyTools 2.0版本中，实现了一个新的Kendrick plot函数，为用户提供在光谱中观察到的峰系列的图形概述，并有助于组织和解释光谱中的峰系列，特别是复杂混合样品。

从样品溶解到PolyTools显示分析聚合物的结果只需要几分钟。因此，PolyTools与MALDI飞行时间质谱仪的质谱分析相结合是获得快速和可靠的进口货物信息的理想组合。平均分子量M_n和M_w以及观察到的终组组合可以直接与参比化合物进行比较。

像非离子表面活性剂Tween这样复杂的聚合物混合物需要不同的光谱可视化:在这种情况下，简单地模拟已发现的低聚离子系列是不够的。PolyTools提供了以Kendrick质量缺陷(KMD)图和分辨率增强的KMD图的形式显示光谱的可能性。对于在低分辨率的仪器上获得的质谱，或者在只有低聚物分辨率的较高质量范围内获得的质谱，PolyTools包含肯德里克质量(RKM)图的剩余部分。与常规和分辨率增强的KMD图相比，这可以用于提高质量耐受性。即使质量范围超过10 kDa或TOF/TOF谱也可以合理地显示出来。

对于端基分析，PolyTools 2.0提供了使用名义肯德里克质量(RNKM)的剩余部分的两个图:KMD - RNKM和RKM - RNKM。作为PolyTools 2.0的一部分，聚合表编辑器允许方便地设置表中的单体单元、端基和阳离子，作为PolyTools 2.0中的光谱解释数据库。

在完整的质谱实验中，检测到低聚物物种。观察到的质量是由一定数量的单体单元、电离阳离子和两个端基的质量组成的。因此，单端基分析不能通过这种方法得到。MS/MS实验可以提供这一信息，因为每个片段只携带一个单端基[1]。

MS/MS的另一个应用是测定嵌段共聚物[2]的嵌段长度，可以更深入地了解聚合物样品的结构。

[1] Knop等;不同取代mpeg2000 MALDI - TOF CID系统研究絮凝。化学。中国科学:地球科学

[2] Weidner等;利用液相色谱与基质辅助激光解吸/电离飞行时间质谱联用的新型聚合物表征软件工具;快速Commun。质量范围。2007;21日,2750 - 2758