傅立叶变换红外光谱仪

INVENIO®

横幅Invenio.

特性

先进的FT-IR常规,研发分析

傅立叶变换红外光谱仪INVENIO®

INVENIO®

从常规的质量控制到先进的研发,INVENIO不断创新。无论您是专注于生产率、精度,还是必须遵守广泛的法规,INVENIO都在各个方面为您提供支持。

受益于我们的创新

  • 新设计的高信噪比波束路径
  • 嵌入式触摸屏PC,快速和最有效的FT-IR分析(可选)
  • 第二个样本室用于并行使用两个ir设置(中转站)TM值的)
  • MultiTectTM值技术添加5个探测器,允许最多7个内部探测器
  • 可选的精确积分TM值干涉仪与< 0.085厘米-1用于全自动多光谱范围光谱的分辨率和3倍束梁换体器
  • 新的SoC电子提供光谱精度和低能耗
  • 独特的布鲁克FM测量MIR和FIR在一次去
  • 可从FIR扩展到VIS/UV和时间分辨光谱

需求变化,INVENIO适应

你的应用程序是事物的衡量标准,而INVENIO支持你的努力。如果你的分析需求增长,INVENIO就会跟上。这是你完成日常分析任务所需要的坚实基础。

优秀的敏感性

利用艺术SOC电子控制的新颖,高效的光束路径设计和精确光学器件,INVENIO提供峰值性能并揭示最小的光谱细节。

强大的软件

Opus.,IR分析最强大的软件解决方案之一,简化了测量程序,支持FT-IR初学者和专家,提供了庞大的方法创建工具集,并为样本评估提供扩展功能。

始终验证

INVENIO具有完全自动化的PQ(性能确认)和OQ(操作确认)程序,用于受监管的制药实验室的仪器验证。

体验质量

从耐用外壳到我们的专利、无磨损、高精度干涉仪设计,bob综合游戏布鲁克的每一个部件都使用优质材料。INVENIO的建造是持久的,并提供永久可用多年。

永远不要限制自己

  • 随时升级,扩展光谱范围
  • 启用步进扫描,快速扫描和交错TRS
  • 覆盖从FIR到VIS/UV的每一个细节
  • 更换配件,检测器和分光器在几秒钟内
  • 使用外部模块的TGA,显微镜或发射分析和更多
  • FT-Raman模块增强分析可能性
  • 符合GMP、GLP和21cfr第11部分

更多分析

将Invenio与几乎任何样品类型和切换采样附件相匹配,而第二个样本隔间允许两个实验设置的并行可用性。

更少的努力

为了始终确保最佳测量参数,所有中央设备组件都是电子编码的。此外,可选的嵌入式触摸PC提供了惊人,直观的用户体验和最先进的连接功能。

所使用的技术受以下一个或多个专利的保护:US 7034944

要求质量控制需要INVENIO

程序和质量控制

FT-IR分析

从常规的质量控制到先进的研发,INVENIO不断创新。无论您是专注于生产率、精度,还是必须遵守广泛的法规,INVENIO都在各个方面为您提供支持。

更好的FT-IR更智能的QC

INVENIO的触摸屏PC(可选)提供了直观的用户界面和智能连接功能。在实验室测量,在你的办公室评估-所有都不需要电缆或手动数据传输。预定义的工作流将操作人员的工作减少到很少的交互,同时保持功能不变。

可靠的。非常高效。生产力。

从基本QC / QA到苛刻的研究应用,无论您是否利用标准ATR单元,特殊的多角度反射单元或成像显微镜。您可以依靠直接的分析和最佳测量结果。

你可以信任的QC。总是这样。

校准TM值始终监控设备配置和快速自我测试,以确保正确的功能,而PerformanceGuardTM值通过对所有机械和电子部件的持续监控,确保最佳的仪器性能。

灵活的傅立叶变换红外光谱

节省大量时间,并始终有两个实验设置随着过境准备好TM值通道(ATR.或传输选项),一个独立的第二个样品室与专用DTGS检测器

FT-IR光谱学触手可及

OPUS TOUCH适用于Windows, ALPHA和INVENIO

法规和遵从性

  • 自动化OQ和PQ
  • 全球审计跟踪和智能归档
  • 完全符合GMP / GLP,JP,PH.EUR和USP,包括21 CFR第11部分

简单的可扩展性

  • FT-IR成像和显微技术(HYPERION)
  • 高通量测量(HTS-XT)
  • 水中蛋白质分析(CONFOCHECK)
  • 热重分析(TGA)

嵌入式触碰电脑

  • 用于快速分析的预定义工作流
  • 非常适合FT-IR初学者
  • FT-IR专家无限制访问
  • 启用无线连接功能

最佳软件解决方案

  • OPUS是一种一体化的振动光谱解决方案
  • 直观的界面和方法创建工具
  • 广泛的光谱参考库

好处

多光谱研究与开发

研究与开发

  • 覆盖从远、中、近红外到VIS/UV的全光谱范围
  • 可提供光谱分辨率<0.085厘米-1
  • 测量>每秒70个光谱@ 16 cm-1分辨率与快速扫描
  • 将步进扫描应用于低纳秒范围的时间解析测量
  • 高信噪比波束路径设计
  • 多达7个内部软件控制的探测器
  • 最多2个输入端口和3个输出端口
  • 各种配件,完全适应样品
  • 多个外部模块来解决高级测量设置
  • 精密电子学进一步提高光谱质量

发现。发展。先锋。

Invenio致力于研究。rucksolid等功能TM值干涉仪或积分TM值干涉仪,带自动束斗钳更换器,Bruker FM,快速扫描,步骤扫描,交错TR,当然还有过境TM值通道,让您进行出色的FT-IR分析。

独特和令人兴奋:MultitectTM值

INVENIO具有独特的检测技术,可用于多达五个自动室温或热稳定的检测元件。这使得覆盖80厘米范围内的整个光谱范围成为可能-1到6000厘米-1或4000厘米-1到28000厘米-1没有任何硬件改变。加上额外的DigiTectTM值插槽(例如,用于LN2冷却探测器)和专用过境TM值检测器这允许多达七个内部检测器。

力量调频:无价的

不间断,不言自明,直截了当:这是布鲁克FM。覆盖整个和平号和FIR光谱范围从80厘米-1到6000厘米-1在一个实验中,并使光学元件的艰苦变化和光谱的合并作为过去的遗物。

毫不费力的精确度:积分TM值干涉仪

新颖,无磨损积分TM值干涉仪具有自动3位置分束器(BMS)变换器是布鲁克的MultiTect的完美对等物TM值技术。和彩色一起TM值软件控制的源选项可以完全自动涵盖从FIR到VIS / UV的整个光谱范围,无需手动交换任何光学组件。

看一下时间解决方法

时间分辨技术,如步进扫描,快速扫描或布鲁克的独家交错TRS是研究和阐明快速动力学过程的关键。使用快速扫描和获得更深的洞察力,例如,化学反应在溶液或使用步进扫描下降到低纳秒范围的可重复性实验,几乎没有任何问题没有答案。

无与伦比的系统智能和无数延伸

让您的FT-IR分析受益于智能功能,如电子编码窗口,内部衰减轮,排放旁路,8倍验证轮和可选触摸操作。Upvalue INVENIO与几乎任何扩展,如显微镜,拉曼或PL模块,TGA耦合,外部样品室和更多。

应用程序

Invenio的应用

FT-IR的应用数不胜数。在高灵敏度、光谱或时间分辨率、稳定性、灵活性和可升级性等各个方面,INVENIO都非常适合。提高您在任何工业或研究应用领域的日常分析经验。bob娱乐平台

质量控制

  • 验证来电
  • 产品缺陷的故障排除
  • 未知污染物的识别

bob综合游戏材料的表征

  • 挥发性组分的测定
  • 分解过程的表征
  • 光学材料的表征bob综合游戏

半导体

  • 硅晶片中氧气和碳含量的测定
  • 近红外光谱范围的光致发光测量

研究与开发

  • 时间分辨光谱
  • FT-IR光谱电化学
  • 低温实验
  • FT-IR显微镜和成像
  • 原位反应监测
  • 调幅光谱学

药品与生命科学

  • 评估医药产品的稳定性和挥发性含量
  • 区分有效药物成分的不同晶型
  • 蛋白质构象和浓度
  • 微生物鉴定

聚合物和化学品

  • 聚合物复合材料中无机填料的鉴定
  • 无机矿物和颜料的鉴定
  • 多层分析
  • 作文调查
  • 反应监测和反应控制
  • 聚合物动态和Rheo-光学研究
  • FT-Raman适用于不同的应用领域

环境

  • 监测污染(即微薄塑料)
  • 土壤的特性

规格

技术细节

Invenio被迷人的创新包装。我们认为Invenio是对最具分析问题的普遍解决方案,可能是工业或纯粹的科学。bob娱乐平台

坚定的干涉仪

Rocksolid.TM值干涉仪永久对齐和耐振动或热效应。它的无耐磨枢轴机构和高通量设计即使在恶劣的环境中也能保证卓越的灵敏度,稳定性和可靠性。

可靠的来源

CenterGlowTM值是布鲁克技术,用于管理源的磨损,从而确保最佳性能并延长其寿命。此外,两个内部源位置和两个外部输入端口可用,都使用内部孔径轮。

最高自动化程度-积分TM值

可靠性和舒适性。创新的积分TM值干涉仪得益于高度精确的立方体角镜和主动对齐平稳运行的BMS转换轮与完美再现的分束器插入。结合5x MultiTectTM值检测技术,DigiTectTM值探测器的位置和多个源的选择,完整的光谱范围从28000厘米-1至15厘米-1可覆盖最佳性能,无需手动更换任何光学元件。各种各样的分束器可用于整个光谱范围,如KBr, CaF2,石英,多层,聚酯薄膜和硅固态BMS。

MultiTectTM值技术允许5个室温或热稳定探测器,如DTGS, InGaAs, Si二极管和GaP。此外,DigiTectTM值槽允许使用例如LN2冷却探测器。的MultiTectTM值单位是软件控制,并提供对FIR,NIR和VIS / UV测量的自动访问。

随时升级

如果您的分析需求发生变化,或者您需要新的光谱功能,则可以对INVENIO的每个可选功能进行改进。

完全采样灵活性

改进的QuickLock附件安装与锁和释放按钮在前面减轻了插入和固定同样庞大的样品设备。此外,可以为多个外部模块配备3个软件可选出口端口:

  • Hyperion系列FT-IR显微镜
  • 微距FPA成像技术
  • Ram II FT-Raman和PLI II光致发光模块
  • TGA-FT-IR耦合
  • PMA 50, VCD和pm - iras偏振调制附件
  • 可变的外部样品室(左和右)定制实验
  • 具有纤维探针的光纤联轴器,用于固体和液体
  • 外部整合球体
  • 液体自动取样器
  • HTS-XT,高通量筛选扩展
  • 空气界面反射单元
  • 和许多更多

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OPUS发布8.7 | INVENIO | 2021年第三季度

新功能:OVP-X(增强型OPUS验证计划)

在OPUS 8.7中,OVP- x成功地实现了目前用于INVENIO FT-IR光谱仪的OVP程序。OVP-X负责INVENIO光谱仪的校准、测试和确认。它提供全面、可靠和容易的校准和认证管理的所有INVENIO测量渠道。

  • 更快和更容易的设置新的附件和扩展
  • 半自动设置测量通道,提高生产率

新功能:Python脚本接口实现到OPUS

现在可以直接在OPUS中创建和执行Python脚本,并开发基于用户的方法。这允许用户基于Python创建自己的计算例程。由于Python在工业界和科学界被广泛接受为编程标准,这使用户能够对他们的分析工具集进行高级控制。

  • 在光谱仪软件OPUS中直接创建和运行Python脚本
  • 开发应用专用评估例程并在Opus中使用它们

新功能:多光谱距离测量功能

本机OPUS功能用于高度自动化的多光谱范围测量,利用了INVENIO独特的MultiTect技术和可选的INTEGRAL干涉仪自动分束变换器。执行从FIR到UV/VIS区域的全自动测量,可选择合并到一个最终光谱。该软件功能也可用于VERTEX光谱仪。

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