Xflash 6t-60

大型实体角度SDD用于NM尺度和以下的TEM分析
XFLASH 6T-60检测器

中型活性区域60毫米2安装在纤细的检测器手指上的芯片可提供较大的实体角度和高起飞角。Xflash®因此,6T-60是X射线产率相对较低的应用,例如原子分辨率光谱法,必须保留区域轴并且样品不能倾斜的实验,并且对于光束敏感的样品(例如石墨烯,生命科学)。该检测器还可以在MNKα处使用126 eV提供很好的能量分辨率。

总而言之,Xflash®6T-60提供以下优势:

  • 良好的能量分辨率(MNKα的126 eV,CKα的51 eV和60 eV在FKα上可用)
  • 其他可用的分辨率为MNKα的129 eV
  • 极高的脉搏负载能力
  • 出色的光元和低能量性能(元素范围 - am)
  • 标准焊接的波纹管
  • 没有振动生成冷却系统
  • 电源后立即可用
  • 无维护操作
  • 低工作成本
  • 小尺寸,包括细线技术手指
  • 重量低
  • 可根据要求提供无窗版

建议的Xflash申请领域®6T-60是:

  • 在TEM和茎上的低X射线屈服应用,包括像差校正电子显微镜