eFlash FS

快速灵敏的EBSD探测器

新EBSD探测器eFlash FS的设计具有最高灵敏度,允许在不影响数据质量的情况下进行高速EBSD测量,即使在变形或轻质材料等具有挑战性的应用中也是如此。为了进一步提高图案质量,eFlash FS的冷却系统已升级,以降低其工作温度,从而尽可能减少CCD相机的暗电流。bob综合游戏

由于灵敏度提高了三倍,暗电流下降了四倍(与以前的eFlash 1000相比),新eFlash FS探测器是所有“基于Hough”的EBSD应用的最佳选择。摄像头灵敏度的巨大提高,加上高速高效的荧光屏,使新型eFlash FS探测器成为现场加热和现场拉伸/压缩测试等动态实验的理想解决方案。

3D EBSD是另一个重要的应用程序,它将大大受益于新型eFlash FS探测器的速度和灵敏度功能。

现在,400 x 300像素地图/切片的采集最快可在2分钟10秒内完成。这意味着70层3D EBSD数据立方体(8.4 M体素)的数据采集部分只需约2.5小时。

其卓越的灵敏度使新型eFlash FS探测器成为低kV EBSD应用以及SEM中的透射菊池衍射(TKD)的完美解决方案,称为透射EBSD(t-EBSD)。使用装有独特OPTIMUS的新型探测器在传输模式下进行方向映射™ TKD探测头现在可以达到每秒630帧(fps)的速度,同时实现至少2 nm的有效空间分辨率。

由于每个图的典型测量时间仅为几分钟,轴上TKD不仅在不影响数据质量的情况下显著提高了效率,而且还最大限度地减少了波束不稳定性引起的伪影。

eFlash FS可与ARGUS一起使用™ 前散射/后散射电子成像系统。这进一步增加了检测器的通用性,并为有意义和有效的微观结构表征提供了有价值的额外信息。

eFlash FS具有高灵敏度和吞吐量。
对于具有最佳样本检测器几何形状的TKD:带有水平OPTIMUS检测器头的eFlash FS。