D8探索升级版
出乎意料
集锦
D8 DISCOVER Plus是目前市场上功能最强大、用途最广泛的X射线衍射仪。
Core是高精度ATLAS测角仪，承载高效涡轮X射线源（TXS-HE）和市场领先的非共面臂。
它设计用于在环境和非环境条件下对各种材料进行结构表征，从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜。bob综合游戏
应用：
- 相位识别和量化、结构测定和细化、微应变和微晶尺寸分析，
- X射线反射仪、掠入射衍射（GID）、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析
- 残余应力分析、纹理和极图、微X射线衍射、广角X射线散射（WAXS），
- 全散射分析：布拉格衍射、对分布函数（PDF）、小角X射线散射（SAXS）
市场画廊
特征
主要特征
非共面臂
D8 DISCOVER Plus可以配备非共面臂，以无与伦比的性能进行面内衍射测量。
- 可接近的2θ范围高达160°，在d-间距测定中具有无与伦比的精度。
- 不匹配的精度与直接角编码器。
- 专用光路组件增加了测量强度，甚至可以从超薄多晶薄膜获得信号。
- 在DIFFRAC.SUITE软件和DIFFRAC.DAVINCI中无缝集成，实现最大效率。
地图集™ 测角计
在X射线衍射中，精确样品分析的基础是测角仪和安装部件的精确方向，尤其是在测量时。ATLAS测角仪在设计上完全满足这些要求，并设置了角度和空间精度基准：
- 耐用和免维护的测角仪
- 带高分辨率光学编码器的高精度步进电机
- 用于安装组件的精确和软件监控接口
配备ATLAS测角仪的D8 DISCOVER Plus具有Bruker AXS通用对准保证：角度偏差∆2测量和认证峰值位置的ETA 2 ETA为≤0.007°. 通过使用每个单独的仪器测量NIST认证标准SRM1976来验证这一点。
TXS-HE x射线源
无论x射线分析工具的关键衡量指标是数据质量(定义为信噪比或信背景比)，还是样品吞吐量，一个常数是，更多的信号总是一个优势。
高效涡轮X射线源（TXS-HE）设计用于增强信号，同时尽量减少与旋转阳极技术相关的维护。
- 高达工业密封管强度的5倍bob娱乐平台
- 线焦点设置，无与伦比的焦点亮度为6 kW/mm2.
- 与光学元件的理想耦合，实现最大强度
- 减少光束路径长度，最大限度地减少空气散射
阿特拉斯™测角仪
紧凑型UMC Plus 150
探路者+光学
EIGER2 R 500K
配备专用光学设备的MONTEL Plus
应用程序
超高级衍射
薄膜分析
共面衍射
在共面实验中，光源和探测器增加其相对于样品表面的角度，导致探测方向进入样品表面。
- 掠入射衍射(GID)表面敏感识别晶体相，并确定其结构属性，包括微晶尺寸和应变。
- 用于提取多层样品厚度、材料密度和界面结构的X射线反射仪（XRR）——从简单基底到高度复杂的超晶格结构。
- 掠入射小角度x射线散射
非共面衍射
在非共面实验中，光源和探测器相对于样品表面的角度是固定的，探测器沿平行于样品表面的方向移动，从而沿样品表面形成探测方向。
- 平面内掠入射衍射（IPGID）将穿透深度降低至纳米，允许表面隔离，并增加对原子厚度层的灵敏度。
- 多晶IPGID允许测定平面内微晶尺寸
- 外延IPGID允许直接确定面内晶格参数和面内取向。
bob综合游戏材料研究
ATLAS测角仪提高了分析的角度和实际空间定位精度，允许从样本的微型区域进行大规模测量。将对称发散度IµS与MONTEL相结合，实现了一类新的衍射仪加和多模EIGER2 R系列探测器，产生与光束线类似的光束质量和检测能力。
- 掠入射衍射(GID)的表面敏感识别晶体相和确定他们的结构属性，如晶体尺寸和应变。
- 用于提取多层样品厚度、材料密度和界面结构的X射线反射仪（XRR）——从简单基底到高度复杂的超晶格结构。
- 高分辨率x射线衍射(HRXRD)分析外延生长样品的结构:层厚，应变，松弛，镶嵌性，混合晶体的成分分析。
- 应力和纹理（首选方向）分析
- 广角X射线散射（WAXS）
粉末衍射
粉末衍射（XRPD）在低取向样品上有广泛的应用。D8 DISCOVER Plus使用ATLAS测角仪将XRPD的精度提升到了一个新的水平。通过提高D8测角仪的精度，D8 DISCOVER Plus上的XRPD分析使研究人员能够发现以前未观察到的微小结构细节。为D8 DISCOVER Plus配备TXS-HE可使XRPD数据的采集速度比传统管道系统快5倍以上。
D8 DISCOVER Plus与功能强大的DIFFRAC.SUITE软件相结合，可以简单地执行PXRD应用程序，如：
- 相位识别
- 相位量化
- 结构解决方案
- 配对分布函数分析（PDF）
- 小角X射线散射（SAXS）
应用程序库
µXRD和2D探测器
面内衍射
倒易空间映射
规格
D8 DISCOVER Plus规范
| 规格 | 利益 | |
| 扭管 | 轻松切换点和线焦点 可用阳极：铬、铜、钼、银 最大功率和灯丝：高达3 kW（0.4 x 16 mm²），具体取决于阳极材料 专利：EP 1 923 900 B1 |
快速改变波长，完美匹配不同应用 最快的线焦点和点焦点切换，适用范围更广，在更短的时间内获得更好的效果 |
| 我µs微焦点来源 | 电源负载：高达50W，单相电源 蒙特尔和蒙特尔加光学结合平行和聚焦镜。 光束尺寸可降至180 x 180µm²。 最大积分通量8 x 10⁸ 后视镜出口处的cps。 光束发散度降至0.5 mrad |
毫米级高亮度超低背景光束 绿色设计，功耗低，不耗水，组件寿命长 优化光束形状和发散度以获得最佳效果 |
| TXS-HE X射线源 | 立式阿特拉斯测角仪的紧凑、轻便设计 线焦点，0.3x3 mm² 焦距为6 kW/mm² 阳极材料：铜bob综合游戏、钴、铬、钼 最大电压50 kV，最大功率取决于阳极材料：Cr 3.2 kW，Cu/Mo 5.4 kW，CO2,8 kW 预对准钨丝 |
允许水平样品安装的高通量X射线源。 比标准陶瓷x射线源的强度高5倍。 非常适合线和点聚焦应用 预对准灯丝允许快速更换灯丝，且重新对准要求最小。 |
| 三重光学 | 软件按钮开关，可在以下位置之间切换： 机动发散狭缝（Bragg-Brentano） 高强度Ka1,2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 专利：US10429326、US6665372、US7983389 |
无需任何手动用户干预，可在多达6种不同的光束几何图形之间进行全自动、电动切换 完美适用于所有类型的样品，包括粉末、块体材料、纤维、薄片和薄膜(非晶、多晶和外延)bob综合游戏 |
| 高分辨率单色仪 | 对称和非对称几何中的Ge（220）和Ge（004）反射 2-反弹和4-反弹（Bartels型）单色器 通过SNAP.LOCK技术实现免对准安装 |
广泛选择最佳分辨率和强度平衡，以获得最佳可能的结果。 快速更换单色仪以优化不同的样品 |
| 地图集™ 测角计 | 设计用于承载TXS-HE X射线源的强制机械垂直测角仪 行业领先的角度精度：在NIST SRM 1976确定的整个角度范围内保证±0.007°2θ D8系列组件的无缝集成，包括光学、定位摄像机、样品台、无环境和探测器技术 |
无与伦比的精度和精度体现在布鲁克尔独特的对齐保证 绝对免维护的驱动机构/齿轮，终身润滑 支持各种应用程序以生成最高精度的数据 |
| 非共面臂 | 用于调查超薄层和面内样品性质的第三测角轴: 最小步长：0.001° 最大2θ范围（取决于配置）：160° 自动探测器距离检测 |
与直接角度编码器的精度不匹配 DIFFRAC.SUITE软件中的无缝集成 高达160°2θ的范围，用于最精确的非共面结构测定 EIGER2探测器的实时校准 |
| 紧凑型UMC级 | 紧凑型UMC Plus 80: XRPD的快速旋转器 最大（x，y）平移：+/-40 mm Max。试样高度:57mm 紧凑型UMC Plus 150： 最大（x，y）平移：+/-75 mm Max。试样高度:57mm 硅片夹头和倾斜台的真空和电引线 |
薄膜研究与粉末衍射模式的无缝切换 5位样品转换器，用于51 mm样品直径 9位置样本转换器，用于32 mm样本直径 2-4“晶圆的映射 6-8“晶圆的映射 反射模式96孔板性能 允许无限φ旋转，连接倾斜台和真空，无需注意电缆或真空管。 |
| 中心欧拉摇篮（CEC） | 五自由度样品台： x、 y表示+/-40 mm的样品平移 用于高度校准的z驱动 Phi驱动器具有360°旋转自由。 Psi驱动和角度范围从-11°到98° 最大重量负荷：1千克 各种阶段附件可用。 |
侧倾角模式下的应力和纹理测量可获得更精确的结果。 （x，y）中的自动映射功能。 电动倾斜台，用于精确的表面对准。 粉末或毛细管纺纱机允许粉末衍射。 卡口式样品台架，可与其他台架快速重复交换。 |
| 探路者+光学 | 软件按钮开关，可在以下位置之间切换： 电动狭缝 双反射锗分析仪 集成自动吸收器 |
在两种不同的光学元件之间进行全自动、电动切换，无需任何手动用户干预。 保持LYNXEYE探测器的全视野。 吸收器确保测量数据的线性度 |
| LYNXEYE XE-T | 能量分辨率:< 380 eV @ 8 KeV 检测模式：0D、1D、2D 波长：铬、钴、铜、钼和银 专利：EP1647840、EP1510811、US20200033275 |
无需Kß滤光片和二次单色器 利用铜辐射对铁荧光进行100%过滤 比传统探测器系统快450倍 Bragg2D：使用发散的主线束收集2D数据 独特的检测器保证:交货时无缺陷通道 |
| EIGER2 | 最新一代基于混合光子计数技术的多模(0D/1D/2D)探测器，由Dectris有限公司开发。 | 在步进、连续和高级扫描模式中无缝集成0D、1D和2D检测 符合人体工程学的、无对准的探测器旋转，以优化γ或2Θ角覆盖 使用完整探测器视场的全景、无工具衍射光束光学系统 连续可变探测器定位，以平衡角度覆盖和分辨率 |
| Non-ambient | 温度：从~12 K到~2500 K 压力:10-下推到100 bar 湿度：相对湿度5%至95% |
环境和非环境条件下的调查 与DIFFRAC.DAVINCI轻松交换级 |
