TappingMode.

TAPPPMODE™的开发使研究人员对图像样本太脆弱，以承受接触模式的横向力，并且使用远高于在非接触模式下获得的扫描速度。

TappingMode AFM是一种BRUKER专利技术，通过用振荡探头尖端轻微地敲击表面来映射地形。悬臂的振荡幅度随着样本表面形貌而变化，通过监控这些变化并关闭Z反馈环来获得地形图像以最小化它们。

这种流行的AFM模式形成了许多高级模式的基础，例如电力显微镜（EFM）和磁力显微镜（MFM）。